高溫四探針測試儀-北京華測試驗儀器有限公司

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功能材料測試儀器

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華測高溫四探針測試儀器

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HGTZ-800華測高溫四探針測試儀器器系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測試多樣化的需求。
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HGTZ-800華測高溫四探針測試儀器

更新時間：2023-08-09

型號：HGTZ-800

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更新時間：2024-06-12

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HCTZ-2四探針測試儀器

更新時間：2023-08-29

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HCTZ-2型數(shù)字式四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。儀器采用了電子技術(shù)進行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。
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HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀

更新時間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

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HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。
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HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀

更新時間：2023-08-29

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HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。
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HCTZ-2S華測四探針測試儀

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HCTZ-2S北京華測四探針測試儀

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