簡(jiǎn)易探針臺(tái)-北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

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功能材料測(cè)試儀器

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Huace-6S半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)

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Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)

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Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)zd可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)；可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
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Huace-8D 雙面探針臺(tái)

更新時(shí)間：2024-06-04

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Huace-8D 雙面探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。
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