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高溫四探針測(cè)試儀的測(cè)量原理及其優(yōu)勢(shì)簡(jiǎn)析

更新時(shí)間：2021-04-25 點(diǎn)擊次數(shù)：3255

　　高溫四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。

　　高溫四探針測(cè)試儀的測(cè)量原理

　　測(cè)量電阻率的方法很多，如三探針?lè)ā㈦娙?電壓法、擴(kuò)展電阻法等,四探針?lè)▌t是一種廣泛采用的標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)

　　法，儀器采用經(jīng)典直排四探針原理，同時(shí)采用了雙電測(cè)組合四探針?lè)ā?/div>

　　經(jīng)典的直排四探針?lè)y(cè)試電阻率，要求使用等間距的探針，如果針間距離不等或探針有游移，就會(huì)造成實(shí)驗(yàn)差。當(dāng)被測(cè)片較小或在大片邊緣附近測(cè)量時(shí)，要求計(jì)入電場(chǎng)畸變的影響進(jìn)行邊界修正。

　　采用雙電測(cè)組合四探針的出現(xiàn)，為提高薄膜電阻和體電阻率測(cè)量準(zhǔn)確度創(chuàng)造了有利條件。

　　高溫四探針測(cè)試儀采用雙電測(cè)組合四探針?lè)ǖ膬?yōu)勢(shì)

　　采用雙電測(cè)組合四探針?lè)ㄟM(jìn)行測(cè)試，測(cè)試結(jié)果與探針間距無(wú)關(guān)，能夠消除間距不等及針尖機(jī)械游移變化的影響，因此四探針測(cè)試臺(tái)允許使用不等距探針頭。

　　采用雙電測(cè)組合四探針?lè)ň哂凶詣?dòng)修正邊界效應(yīng)的功能，對(duì)小尺寸被側(cè)片或探針在較大樣品邊緣附近時(shí),不需要對(duì)樣品做幾何測(cè)量，也不需要尋找修正因子。

　　采用雙電測(cè)組合四探針?lè)ǎ灰苿?dòng)四探針針頭，同時(shí)使用三種模式測(cè)量，既可計(jì)算得到測(cè)試部位的電阻均勻性。