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高溫鐵電測(cè)試儀/分析儀

簡(jiǎn)要描述:高溫鐵電測(cè)試儀/分析儀鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成。

  • 產(chǎn)品型號(hào):HCTD—800
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-06-04
  • 訪  問(wèn)  量:1824

詳細(xì)介紹

品牌北京華測(cè)產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域化工,石油,電子

  高溫鐵電測(cè)試儀

一、高溫鐵電測(cè)試儀簡(jiǎn)介:

鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性,可準(zhǔn)確地測(cè)出具有非對(duì)稱(chēng)電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測(cè)鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時(shí)也可作為一臺(tái)通用信號(hào)發(fā)生器、高壓信號(hào)發(fā)生器使用。

二、系統(tǒng):

本測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和,并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度,它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數(shù),以及對(duì)鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測(cè)試。能夠較全面準(zhǔn)確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電。儀器采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡(jiǎn)單方便。

三、技術(shù)參數(shù):

電壓范圍:±30V(可擴(kuò)展至±4KV)

輸出電流峰值:±1A

負(fù)荷電容max:1μF

動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率:0.001Hx~100kHz

鐵電材料漏電流的測(cè)試:10pA~100mA

脈沖寬度min:25ns

上升時(shí)間:7ns

極化測(cè)試到:10fC

塊體材料樣品盒可進(jìn)行室溫~1200℃電滯回線測(cè)定





高溫鐵電測(cè)試儀/分析儀

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