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  • 絕緣電阻劣化離子遷移評估系統(tǒng)/PCB測試
    絕緣電阻劣化離子遷移評估系統(tǒng)/PCB測試

    更新時間:2023-08-29

    型號:

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    面對電子產品越來越小型輕量及絕緣電阻劣化離子遷移評估系統(tǒng)/PCB測試配之以高溫高濕試驗箱聯動,可連續(xù)監(jiān)測,簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
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  • 華測高溫/低溫介電溫譜試驗儀
    華測高溫/低溫介電溫譜試驗儀

    更新時間:2024-10-17

    型號:

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    華測高溫/低溫介電溫譜試驗儀,主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學測試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測試軟件于一體,可測試材料的介電常數,介質損耗,阻抗譜Co-Co圖,機電耦合系數等,同時可分析被測樣品隨溫度,頻率,時間變化的曲線,測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。
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  • HPZT-200靜壓電系數d33測量儀/測試儀器
    HPZT-200靜壓電系數d33測量儀/測試儀器

    更新時間:2023-08-07

    型號:HPZT-200

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    靜壓電系數d33測量儀/測試儀器為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用激振器,以實現振動頻率。電荷采用采用高阻放電荷放大器。以保證測試數據的精度。
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  • 水平垂直燃燒測試儀
    水平垂直燃燒測試儀

    更新時間:2023-08-29

    型號:

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    水平垂直燃燒測試儀本試驗設備符合 ANSI/UL94、IEC60950-1 標準的要求。用于對電器設備和器具的塑料材 料部件進行水平、垂直可燃性試驗。產品箱體外殼為鋼材結構,并配置了透明觀察窗,數顯計時器記錄施焰、余焰、余灼時間,裝置外形美觀,使用方便,可靠。
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  • 華測熱重分析儀/力學原位加載
    華測熱重分析儀/力學原位加載

    更新時間:2023-08-21

    型號:

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    華測熱重分析儀/力學原位加載(Thermal Gravimetric Analyzer)是一種利用熱重法檢測物質溫度-質量變化關系的儀器。熱重法是在程序控溫下,測量物質的質量隨溫度(或時間)的變化關系。當被測物質在加熱過程中有升華、汽化、分解出氣體或失去結晶水時,被測的物質質量就會發(fā)生變化。這時熱重曲線就不是直線而是有所下降。
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  • 華測高低溫介電溫譜儀
    華測高低溫介電溫譜儀

    更新時間:2023-08-08

    型號:

    瀏覽量:3449

    華測高低溫介電溫譜儀是公司開發(fā)的高低溫阻抗、介電測量系統(tǒng)軟件將高溫測試平臺,高溫測試夾具與WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測量設備無縫連接,實現了自動完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數的測量與分析。
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  • Huace-800G北京華測 高真空退火爐  測試儀器
    Huace-800G北京華測 高真空退火爐 測試儀器

    更新時間:2023-12-01

    型號:Huace-800G

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    北京華測 高真空退火爐 測試儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實現,高反射率的拋物面與高質量的加熱源相配置儀器。它能在高速加熱高速冷卻時,具有良好的溫度分布。設備可組成均熱高速加熱爐,溫度斜率爐,階段加熱爐??蓪崿F寬域均熱區(qū),高速加熱、高速冷卻,用石英管保護加熱式樣,無氣氛污染??稍诟哒婵?,高出純度氣體中加熱。
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  • HGTZ-800華測高溫四探針測試儀器
    HGTZ-800華測高溫四探針測試儀器

    更新時間:2023-08-09

    型號:HGTZ-800

    瀏覽量:1276

    華測高溫四探針測試儀器——高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數據,自動生成報表。
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