高溫直流測試系統(tǒng)-北京華測試驗(yàn)儀器有限公司

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絕緣材料測試儀器

擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)

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高溫直流測試系統(tǒng)的設(shè)備參數(shù)

HGZL-1000華測高溫直流測試系統(tǒng) 直流絕緣電阻

更新時(shí)間：2024-06-12

型號：HGZL-1000

瀏覽量：1343

華測高溫直流測試系統(tǒng) 直流絕緣電阻主要用于材料高溫條件的直流絕緣電阻的測量，與軟件配合可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫等測試，升溫速度可調(diào)。采用紅外加溫，可實(shí)現(xiàn)真空、氣氛環(huán)境測試。溫度范圍為室溫~1000℃，全溫區(qū)穩(wěn)定精度±1℃，可輸出保存BMP、TXT、XLS等數(shù)據(jù)格式文件并且可對測量的數(shù)據(jù)提供查詢與分析功能。
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HGZL-1000高溫直流測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2022-10-24

型號：HGZL-1000

瀏覽量：1311

高溫直流測試系統(tǒng)主要用于材料高溫條件的直流絕緣電阻的測量，與軟件配合可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫等測試，升溫速度可調(diào)。采用紅外加溫，可實(shí)現(xiàn)真空、氣氛環(huán)境測試。溫度范圍為室溫~1000℃，全溫區(qū)穩(wěn)定精度＜1℃，可輸出保存BMP、TXT、XLS等數(shù)據(jù)格式文件并且可對測量的數(shù)據(jù)提供查詢與分析功能。
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HCDZ-20型直流低電阻測試儀系列

更新時(shí)間：2023-08-29

型號：HCDZ-20型

瀏覽量：1224

直流低電阻測試儀系列采用四端測量法專門用于測量低直流電阻的儀器。該產(chǎn)品具有簡便的比較功能，設(shè)定方便，顯示直觀。可廣泛用于測量各種線圈的電阻，電動(dòng)機(jī)、變壓器繞組的電阻，電纜的導(dǎo)線電阻，開關(guān)、插頭、插座等電器的接觸電阻和金屬鉚接電阻。
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HCDZ-20直流低電阻測試儀系列

更新時(shí)間：2023-08-29

型號：HCDZ-20

瀏覽量：991

直流低電阻測試儀系列采用四端測量法專門用于測量低直流電阻的儀器。該儀器具有簡便的比較功能，設(shè)定方便，顯示直觀。可廣泛用于測量各種線圈的電阻，電動(dòng)機(jī)、變壓器繞組的電阻，電纜的導(dǎo)線電阻，開關(guān)、插頭、插座等電器的接觸電阻和金屬鉚接電阻。
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精度高高溫直流電阻率測試系統(tǒng)HCGR-12KV

更新時(shí)間：2023-08-29

型號：

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精度高高溫直流電阻率測試系統(tǒng)HCGR-12KV： 1、采用超低紋波系數(shù)高壓直流電源，保證測試電壓的穩(wěn)定度。 2、采用保障試驗(yàn)人員及試驗(yàn)設(shè)備的； 3、采用吉時(shí)利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動(dòng)跟隨與切換，可以實(shí)時(shí)采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便
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高溫直流電阻率測試系統(tǒng)HCGR-12KV-北京華測

更新時(shí)間：2023-08-29

型號：

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高溫直流電阻率測試系統(tǒng)HCGR-12KV-北京華測采集范圍： ●GB/T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直流棒形懸式復(fù)合絕緣子技術(shù)條件
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時(shí)間自由設(shè)定高溫直流電阻率測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2023-08-29

型號：

瀏覽量：1450

時(shí)間自由設(shè)定高溫直流電阻率測試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢： 1、采用超低紋波系數(shù)高壓直流電源，保證測試電壓的穩(wěn)定度。 2、保障試驗(yàn)人員及試驗(yàn)設(shè)備的； 3、采用吉時(shí)利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動(dòng)跟隨與切換，可以實(shí)時(shí)采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便；
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自動(dòng)歸零高溫直流電阻率測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-06-13

型號：

瀏覽量：1272

自動(dòng)歸零高溫直流電阻率測試系統(tǒng)適合范圍： ●GB/T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直流棒形懸式復(fù)合絕緣子技術(shù)條件
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