介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀_第(10)頁-北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

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絕緣材料測(cè)試儀器

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HCJDCS-G工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀、北京華測(cè)*

更新時(shí)間：2024-08-26

型號(hào)：HCJDCS-G

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工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀、北京華測(cè)*符合標(biāo)準(zhǔn)： GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法。
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HCJDCS-C高頻介損及介電常數(shù)測(cè)試儀、北京華測(cè)銷量*

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：HCJDCS-C

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高頻介損及介電常數(shù)測(cè)試儀、北京華測(cè)銷量*：高頻介損及介電常數(shù)測(cè)試儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。主要用于測(cè)量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號(hào)下的介損、介電常數(shù)。
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HCJDCS-B高頻介電常數(shù)測(cè)試儀、北京華測(cè)*

更新時(shí)間：2023-08-22

型號(hào)：HCJDCS-B

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高頻介電常數(shù)測(cè)試儀、北京華測(cè)*：高頻介損及介電常數(shù)測(cè)試儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。主要用于測(cè)量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號(hào)下的介損、介電常數(shù)。
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HCJDCS-A抗震好、高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-08-22

型號(hào)：HCJDCS-A

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抗震好、高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀: 高頻介損及介電常數(shù)測(cè)試儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。主要用于測(cè)量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號(hào)下的介損、介電常數(shù)。
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HCJDCS-A高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀、北京海淀區(qū)華測(cè)儀器

更新時(shí)間：2023-08-22

型號(hào)：HCJDCS-A

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高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀、北京海淀區(qū)華測(cè)儀器：高頻介損及介電常數(shù)測(cè)試儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。主要用于測(cè)量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號(hào)下的介損、介電常數(shù)。
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HCJDCS-A高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-08-22

型號(hào)：HCJDCS-A

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高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。主要用于測(cè)量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號(hào)下的介損、介電常數(shù)。
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HC2810B型LCR數(shù)字電橋檢測(cè)儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

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HC2810B型LCR數(shù)字電橋檢測(cè)儀器是一種測(cè)試速度快、精度高、測(cè)試范圍寬的通用阻抗測(cè)量?jī)x器。四個(gè)測(cè)試頻率點(diǎn)，Z高至10kHz, 30Ω 、100Ω兩種不同信號(hào)源輸出阻抗可使儀器測(cè)量結(jié)果與眾多LCR結(jié)果相，同時(shí)也能適應(yīng)陶瓷電容器對(duì)測(cè)量電平的要求。
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HC2826型LCR數(shù)子電橋檢測(cè)儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：

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HC2826型LCR數(shù)子電橋檢測(cè)儀器： HC2826系列元件測(cè)試儀是*臺(tái)符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的新一代阻抗測(cè)試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數(shù)的測(cè)量要求，可廣泛應(yīng)用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測(cè)量。
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