電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀-北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

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改性塑料試驗(yàn)設(shè)備

電壓擊穿試驗(yàn)儀耐電弧測(cè)試儀絕緣電阻試驗(yàn)儀電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 高壓、低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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HCRD-300電弱點(diǎn)測(cè)驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-09-10

型號(hào)：HCRD-300

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HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)驗(yàn)儀主要應(yīng)用于新能源汽車用鋰離子電池隔膜電氣絕緣缺陷檢測(cè)。新能源塑料薄膜鋰電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀主要用于鋰離子電池隔膜、電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。
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HCRD-300薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCRD-300

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薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器通過人機(jī)對(duì)話方式，本產(chǎn)品是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜第2部分：試驗(yàn)方法及其第1次修正（2001）和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。
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HCRD-2計(jì)算機(jī)控制儀器——電弱點(diǎn)測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCRD-2

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計(jì)算機(jī)控制儀器——電弱點(diǎn)測(cè)試儀，通過人機(jī)對(duì)話方式，本產(chǎn)品是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜第2部分：試驗(yàn)方法及其第1次修正（2001）和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。
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HCRD-300電弱點(diǎn)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCRD-300

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電弱點(diǎn)測(cè)試儀器主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。
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HCDRD-20kv華測(cè)薄膜擊穿電弱點(diǎn)測(cè)試儀器--鋰電池隔膜

更新時(shí)間：2024-06-12

型號(hào)：HCDRD-20kv

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華測(cè)薄膜擊穿電弱點(diǎn)測(cè)試儀器--鋰電池隔膜，該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
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多重保護(hù)功能、電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCDRD-20kv

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：

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多重保護(hù)功能、電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCDRD-20kv：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
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HCDRD-20kv電弱點(diǎn)測(cè)試儀器高壓試驗(yàn)裝置

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCDRD-20kv

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電弱點(diǎn)測(cè)試儀器高壓試驗(yàn)裝置：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
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HCDRD-20kv電弱點(diǎn)測(cè)試儀測(cè)試寬度用戶要求而設(shè)

更新時(shí)間：2024-06-12

型號(hào)：HCDRD-20kv

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電弱點(diǎn)測(cè)試儀測(cè)試寬度用戶要求而設(shè)，該儀器是根據(jù)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。本機(jī)采用計(jì)算機(jī)控制，可對(duì)試驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。
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