簡要描述:操控性好高溫四探針測量系統(tǒng)Huace-600測試儀器,該系統(tǒng)可以測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻 以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻,該設備按照單晶硅物理測試方法標準設計的。
產品分類
Product Category相關文章
Related Articles詳細介紹
品牌 | 北京華測 | 電動機功率 | *kW |
---|---|---|---|
外形尺寸 | *mm | 重量 | *kg |
應用領域 | 化工,能源,電子,電氣 |
操控性好高溫四探針測量系統(tǒng)Huace-600測試儀器
操控性好高溫四探針測量系統(tǒng)Huace-600測試儀器概述:
●Huace-600高溫四探針測量系統(tǒng),該系統(tǒng)可以測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻 以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻,該設備按照單晶硅物理測試方法標準設計的。
●采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統(tǒng),滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求,通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率,可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲 線. 目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試,可以廣泛用于碳系導電材料、 金屬系導電材料、 金屬氧化物系導電材料、結 構型高分子導電材料、復合導電材料等材料的電阻率測量。 過測控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導率數(shù)據的變化曲 線。
儀器特點:
1、可以測量高溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率;
2、軟件、觸摸屏、高溫爐等集成于一體,可以進行可視化操作;
3、可實現(xiàn)純凈氣氛條件下的測量;同時保證探針在高溫下不氧化;
4、采用labview軟件開發(fā),操控性、兼容性好、方便升級;
5、可自動調節(jié)樣品測試電壓,探針和薄膜接觸閃絡現(xiàn)象;
6、控溫和測溫采用同一個傳感器,保證樣品每次采集的溫度都是樣品實際溫度;
7、可配套使用Keithley2400或2600數(shù)字多用表;
特點:
● 多級循環(huán)溫度采集技術: 設備采用PID算法,以及多級循環(huán)溫度采集以保證溫度的有效值。控溫和測溫采用同一個傳感器,保證樣品每次采集的溫度都 是樣品實際溫度.
● 雙系統(tǒng)互鎖技術及隔離屏蔽技術: 本設備不僅具備過壓、過流保護系統(tǒng),雙系統(tǒng)互鎖機制,當任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時,將瞬間切斷 電源。采用低通濾波電流檢測技術以保證采集電流的有效值 ,以及電流抗干擾的屏蔽。
● SPWM電子升壓技術 目前設備大都采用SPWM電子升壓技術,這一技術具有升壓速度平穩(wěn),精度高。便于維護等優(yōu)點是調壓器。
技術參數(shù) | ●測量溫度:室溫---600°C ; |
●控溫精度:±1℃ , | |
●顯示精度:±0.1℃; | |
●升溫斜率:1-5°C/min; | |
●測量精度:0.05%; | |
●電阻率:10-5 ~105 Ω.cm ; | |
●電導率:10-5 ~105 s/cm | |
●方塊電阻:10-4 ~106 Ω/□; | |
●電阻:10-5 ~105 Ω; | |
●探針間距:2±0.01mm; | |
●探針壓力:0~2kg可調; | |
●針間絕緣電阻:≥1000MΩ; | |
●真空腔體漏率標準要小于10-9 Pa?m3/s ; | |
●樣品:直徑15~30mm,厚度小于4mm; | |
●設備尺寸:680mmX450mmX400mm |
產品咨詢
電話
微信掃一掃