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高低温环境试验设备

小型探针台高低温冷热台

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HCP650-PM华测高低温冷热台防止高温氧化负温结霜

更新时间：2024-07-08

型号：HCP650-PM

浏览量：3037

华测高低温冷热台防止高温氧化负温结霜，高低温冷热台是一款温度范围-190C~600C的温控探针台。使用时还可对样品气氛进行控制。这样既可以保证，即使在极低温度下，腔体也不产生结霜影响实验，又可以防止样品发生氧化。
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Huace-6 中端探针台

更新时间：2024-06-04

型号：

浏览量：711

Huace-6 中端探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动；可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用
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Huace-4S小型探针台

更新时间：2024-06-04

型号：

浏览量：634

Huace-4S小型探针台最大可用于6英寸以内样品测试；可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等。
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Huace-4简易探针台

更新时间：2024-06-04

型号：Huace-4

浏览量：622

Huace-4系列简易探针台可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等；外形轻盈，操作方便，价格实惠；
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华测测试仪器 HCMP手动探针台

更新时间：2024-06-25

型号：

浏览量：1863

华测测试仪器 HCMP手动探针台是一款专门用于材料电学表征和测量的微型桌面型电学测量台，主要用于介电、压电、铁电、热释电、光电等材料的电学表征和测量，还可以在真空、气氛环境下对材料进行电学测量评估，是实验室测量薄膜材料电学材料常用工具，广泛用于高校、科研、航天航空、军工院所等领域。
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半导体参数测试仪与MM探针台/系统集成

更新时间：2023-08-28

型号：

浏览量：2274

半导体参数测试仪与MM探针台/系统集成支持二极管、三极管、MOS管等半导体器件以及材料的直流电流-电压（I-V）测量，准静态和中频电容-电压（C-V）测量，时域测量等。
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