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  • HCLD-III耐電痕化漏電起痕試驗儀產(chǎn)品供應測試儀器
    HCLD-III耐電痕化漏電起痕試驗儀產(chǎn)品供應測試儀器

    更新時間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

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    耐電痕化漏電起痕試驗儀產(chǎn)品供應測試儀器HCLD-III為華測公司2013年重點科研產(chǎn)品之一,高壓漏電試驗儀采用控制系統(tǒng)精度高,擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理,采用高壓真空切斷技術,使試驗過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗的高壓切斷,使數(shù)據(jù)采集精確,同時本設備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護裝置,使儀器。
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  • 絕緣漆耐電弧試驗機裝置HCDH-III
    絕緣漆耐電弧試驗機裝置HCDH-III

    更新時間:2024-06-03

    型號:

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    絕緣漆耐電弧試驗機裝置HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法。
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  • 絕緣漆耐電弧試驗機設備*HCDH-III測試儀器
    絕緣漆耐電弧試驗機設備*HCDH-III測試儀器

    更新時間:2024-06-03

    型號:

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    絕緣漆耐電弧試驗機設備*HCDH-III測試儀器采用計算機控制,試驗過程中可在線觀察試驗曲線;自動存儲試驗條件及試驗結(jié)果等數(shù)據(jù),并可存取、顯示、打印。本試驗儀器采用上位機控制,操控軟件采用LabVIEW編寫,人性、智能化。
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  • 絕緣材料耐電弧試驗機設備*HCDH-III
    絕緣材料耐電弧試驗機設備*HCDH-III

    更新時間:2024-06-03

    型號:

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    絕緣材料耐電弧試驗機設備*HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法。
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  • 小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗儀HCDH-III
    小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗儀HCDH-III

    更新時間:2024-06-03

    型號:

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    小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗儀HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法。
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  • 計算機控制耐電弧試驗儀HCDH-III測試儀器
    計算機控制耐電弧試驗儀HCDH-III測試儀器

    更新時間:2024-06-03

    型號:

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    計算機控制耐電弧試驗儀HCDH-III測試儀器適應于電機、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆、以及層壓板、覆銅箔板等絕緣材料等介質(zhì)的耐電弧測試
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  • 小電流絕緣漆耐電弧試驗儀*HCDH-III
    小電流絕緣漆耐電弧試驗儀*HCDH-III

    更新時間:2024-06-03

    型號:

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    小電流絕緣漆耐電弧試驗儀*HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法。
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  • HCTZ-2S讀數(shù)穩(wěn)定手持式四探針測試儀器
    HCTZ-2S讀數(shù)穩(wěn)定手持式四探針測試儀器

    更新時間:2024-06-13

    型號:HCTZ-2S

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    讀數(shù)穩(wěn)定手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻,適用于半導體和太陽能材料測試的要求,也可對分立電阻進行測量,USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式,既能適應固定場合對元器件進行檢測,又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。
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