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  • HCLD-III操作簡單高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器
    HCLD-III操作簡單高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號：HCLD-III

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    HCDH-200操作簡單高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH 4 CL），用以評價(jià)固體絕緣材料表面在電場和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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  • HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器
    HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號：HCLD-III

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    HCDH-200高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH 4 CL），用以評價(jià)固體絕緣材料表面在電場和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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  • HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器
    HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號：HCLD-III

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    觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀測試儀器
    HCLD-III電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀測試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號：HCLD-III

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    電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀測試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III電工電子漏電起痕試驗(yàn)儀/測試儀器
    HCLD-III電工電子漏電起痕試驗(yàn)儀/測試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號：HCLD-III

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    電工電子漏電起痕試驗(yàn)儀/測試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀
    HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號：HCLD-III

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    電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀測試儀器
    HCLD-III控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀測試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號：HCLD-III

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    控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀測試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III操作簡單漏電起痕試驗(yàn)儀測試儀器
    HCLD-III操作簡單漏電起痕試驗(yàn)儀測試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號：HCLD-III

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    操作簡單漏電起痕試驗(yàn)儀測試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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