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  • HCDJC-100KV塑料薄膜電壓擊穿試驗(yàn)儀優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)
    HCDJC-100KV塑料薄膜電壓擊穿試驗(yàn)儀優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)

    更新時(shí)間:2024-06-03

    型號(hào):HCDJC-100KV

    瀏覽量:1016

    塑料薄膜電壓擊穿試驗(yàn)儀優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)主要適用于固體絕緣材料如:塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣油、絕緣漆、紙板等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試。
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  • HCDJC-100KV固體絕緣材料電壓擊穿試驗(yàn)機(jī)優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)
    HCDJC-100KV固體絕緣材料電壓擊穿試驗(yàn)機(jī)優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)

    更新時(shí)間:2024-06-03

    型號(hào):HCDJC-100KV

    瀏覽量:1041

    固體絕緣材料電壓擊穿試驗(yàn)機(jī)優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法 第1部分;工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。
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  • HCLD-III電痕化高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器
    HCLD-III電痕化高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

    瀏覽量:1135

    電痕化高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器 是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度( 35mm )滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH 4 CL),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)。
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  • HCLD-III固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器
    HCLD-III固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

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    固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度( 35mm )滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH 4 CL),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)。
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  • HCLD-III工程塑料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀
    HCLD-III工程塑料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

    瀏覽量:1081

    HCDH-200工程塑料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度( 35mm )滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH 4 CL),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)。
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  • HCLD-III反應(yīng)快高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器
    HCLD-III反應(yīng)快高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

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    HCDH-200反應(yīng)快反應(yīng)快高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度( 35mm )滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH 4 CL),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)。
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  • HCLD-III電工電直子高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器
    HCLD-III電工電直子高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

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    HCDH-200電工電直子高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度( 35mm )滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH 4 CL),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)。
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  • HCLD-III絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置
    HCLD-III絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

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    HCDH-200絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度( 35mm )滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH 4 CL),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)。
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