熱釋電系數(shù)測試儀測試方法介紹
更新時間:2022-12-27 點擊次數(shù):328
熱釋電系數(shù)測試儀是某些材料在溫度變化的作用下產(chǎn)生電荷的能力,具有熱釋電性的材料稱為熱釋電材料。通常,熱釋電材料宏觀電矩正端表面將吸引負電荷,負端表面吸引正電荷,直到電矩產(chǎn)生的電場全被屏蔽為止。
熱釋電系數(shù)測試儀工作時,當溫度變化,材料的宏觀電極化強度改變,屏蔽電荷失去平衡,材料表面多余的屏蔽電荷被釋放出來,形成可以檢測到的電流,這種效應稱為熱釋電效應。
熱釋電系數(shù)可用靜態(tài)法、動態(tài)法和積分電荷法測試,其中積分電荷法得到廣泛應用。該方法通過測量在電容器上積累的熱釋電電荷,測定剩余極化隨溫度的變化。
使用靜電計測得積分電容兩端電壓,輸出至函數(shù)記錄儀Y端,由于積分電容值遠大于試樣電容值,其兩端的電壓變化正比于試樣剩余極化的變化。同時,用X端記錄試樣溫度變化,可得到熱釋電電荷Q隨溫度T變化的曲線,微分該曲線,就可得到熱釋電系數(shù)。
測試設(shè)備的加熱油槽由銅制成,外殼接地以屏蔽外來信號的干擾,內(nèi)盛絕緣油,絕緣油應該浸沒試樣架和測溫熱電偶,外加保溫材料。熱電偶的工作溫度范圍為室溫至85℃,溫差電動勢大者為宜。
積分電容視試樣電容大小及熱釋電系數(shù)大小而定,一般為10μF。直流電阻不小于109Ω。靜電計輸入阻抗不小于1010Ω。函數(shù)記錄儀的相對誤差小于或等于1%。
整個系統(tǒng)放電時間常數(shù)不小于4×103s,相對于采用10μF積分電容而言系統(tǒng)總電阻大于5×108Ω。試樣要求全電極極化試樣,電阻R不小于109Ω,其尺寸為:面積1cm2,厚度t不小于0.5mm。