電弱點測試儀擊穿后的電壓采集能解決什么問題?
更新時間:2022-06-17 點擊次數(shù):542
電弱點測試儀采用的光耦隔離方式,但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。
電弱點測試儀測量準(zhǔn)確,復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動控制,遇到電弱點時電壓切斷動作迅速。擊穿電流在0~40mA連續(xù)可調(diào),復(fù)現(xiàn)性好。本機具備多重保護(hù)功能,充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過壓、過流、接地保護(hù),試驗平臺門開啟保護(hù)。
根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點的測試,測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。
無論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計的傳感器存在材料產(chǎn)生弱點后后瞬間輸出電壓或電流信號過大,從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號進(jìn)行相應(yīng)處理。
采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電弱點測試儀器,電弱點測試儀器不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng),雙系統(tǒng)互鎖機制,當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時,將瞬間切斷高壓。技術(shù),。
薄膜材料擊穿后,瞬間放電速度約為光速的1/5~1/3,國際通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。