熱釋電系數(shù)測試儀怎么做熱釋電系數(shù)的測試
更新時間:2021-11-29 點(diǎn)擊次數(shù):959
熱釋電系數(shù)測試儀基于熱釋電動態(tài)電流法設(shè)計,由溫度控制器、加熱爐體、微電流放大器、溫度測試儀以及計算機(jī)軟件系統(tǒng)組成。溫度控制器控制加熱爐體內(nèi)部溫度;樣品的電流信號通過微電流放大器、輸入到計算機(jī);而溫度信號則直接通過溫度測試儀傳送到計算機(jī)。能測量具有熱釋電的單晶、陶瓷、厚膜及薄膜材料樣品,適用范圍廣。
熱釋電系數(shù)可用靜態(tài)法、動態(tài)法和積分電荷法測試,其中積分電荷法得到廣泛應(yīng)用。該方法通過測量在電容器上積累的熱釋電電荷,測定剩余極化隨溫度的變化。使用靜電計測得積分電容兩端電壓,輸出至函數(shù)記錄儀Y端,由于積分電容值遠(yuǎn)大于試樣電容值,其兩端的電壓變化正比于試樣剩余極化的變化。同時,用X端記錄試樣溫度變化,可得到熱釋電電荷Q隨溫度T變化的曲線,微分該曲線,就可得到熱釋電系數(shù)。
測試設(shè)備的加熱油槽由銅制成,外殼接地以屏蔽外來信號的干擾,內(nèi)盛絕緣油,絕緣油應(yīng)該浸沒試樣架和測溫?zé)犭娕迹饧颖夭牧稀犭娕嫉墓ぷ鳒囟确秶鸀槭覝刂?5℃,溫差電動勢大者為宜。積分電容視試樣電容大小及熱釋電系數(shù)大小而定,一般為10μF。直流電阻不小于109Ω。靜電計輸入阻抗不小于1010Ω。函數(shù)記錄儀的相對誤差小于或等于1%。整個系統(tǒng)放電時間常數(shù)不小于4×103s,相對于采用10μF積分電容而言系統(tǒng)總電阻大于5×108Ω。試樣要求全電極極化試樣,電阻R不小于109Ω,其尺寸為:面積1cm2,厚度t不小于0.5mm。
測量時將經(jīng)清潔干燥處理的試樣置于樣品架上,浸沒于絕緣油中,試樣與熱電偶應(yīng)盡可能接近。對油槽加溫,使之按一定速率升溫,并進(jìn)行記錄。然后,從所得Q-T曲線,求取所需溫度點(diǎn)的曲線斜率,即為該溫度的熱釋電系數(shù)。