一、概述：

高頻介電溫譜系統(tǒng)主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖， 機電耦合系數(shù)等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目 要求選購。

二、特點：

     公司研發(fā)有高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩探針夾具，可與高溫測試平臺配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量系統(tǒng)。

    溫度范圍從室溫至600°C、800°C、1000°C、1200°C，具備的PID控制算法，控溫精 度可到±1°C，確保溫度控制不超調(diào)。提供7種不同控溫方式，滿足客戶多種測試需求。

     高溫介電測試夾具根據(jù)標準ASTM D150方法，采用平行板電極原理設(shè)計。電極由上電極、下電極以及保護電極組成。上下電有良好的同心度和平行度，保護電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數(shù)據(jù)準確可靠。

     公司開發(fā)的高溫阻抗、介電測量系統(tǒng)軟件將高溫測試平臺、高溫測試夾具與WK6500系列、 Agilent(Keysight) 4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron 1260 LCR測量設(shè)備無縫連接，實現(xiàn)了自動完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測量與分析。另外，還可根據(jù)用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。

     軟件可根據(jù)實驗方案設(shè)計，通過測量C和D值，自動完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、 電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數(shù)據(jù)豐富多樣。