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絕緣電阻測(cè)試儀常見故障及解決方法

更新時(shí)間:2016-08-26      點(diǎn)擊次數(shù):2106

                絕緣電阻測(cè)試儀常見故障及解決方法

1.在絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí),絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系,為什么?
絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可 反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí),在測(cè)試過(guò)程的開始階段,絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的高壓源要通過(guò)其內(nèi)阻向該電容充電,并逐步將 電壓充到絕緣電阻測(cè)試儀的輸出額定高壓值。顯然,如果試品的電容量值很大,或高壓源內(nèi)阻很大,這一充電過(guò)程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。其長(zhǎng)度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積 決定(單位為秒)。請(qǐng)注意,給電容充電的電流與被測(cè)試品絕緣電阻上流過(guò)的電流,在測(cè)試中是一起流入絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的。絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)得的電流不僅有絕 緣電阻上的分量,也加入了電容充電電流分量,這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小。
如:試品容量為0.15μF,則時(shí)間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9(秒)即在18秒時(shí)刻,電容上的充電電流仍有11.3μA。
由此可見,僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA=442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ,則顯示的測(cè)得絕緣值僅為306MΩ。這種 試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了,而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變,即容量小,測(cè)試阻值大;容量大,測(cè)試阻值小。
所以,為保障準(zhǔn)確測(cè)得R15s,R60s的試值,應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻測(cè)試儀。我國(guó)的相關(guān)規(guī)程要求絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1mA、2mA、5mA,要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測(cè)試儀。

2.為什么測(cè)絕緣時(shí),不但要求測(cè)單純的阻值,而且還要求測(cè)吸收比,極化指數(shù),有什么意義?
在絕緣測(cè)試中,某一個(gè)時(shí)刻的絕緣電阻值是不能反映試品絕緣的優(yōu)劣的,這是由于以下兩方面原因,一方面,同樣的絕緣材料,體積大時(shí)呈現(xiàn)的絕緣 電阻小,體積小時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻大。另一方面,絕緣材料在加上高壓后均存在對(duì)電荷的吸收比過(guò)程和極化過(guò)程。所以,電力系統(tǒng)要求在主變壓器、電纜、電機(jī)等許 多場(chǎng)合的絕緣測(cè)試中應(yīng)測(cè)量吸收比-即R60s和R15s的比值,和極化指數(shù)-即R10min和R1min比值,并以此數(shù)據(jù)來(lái)判定絕緣狀況的優(yōu)劣。

3.在絕緣電阻測(cè)試儀高壓高阻的測(cè)試環(huán)境中,為什么要求儀表接"G"端連線?
在被測(cè)試品兩端加上較高的額定電壓,且絕緣阻值較高時(shí),被測(cè)試品表面受潮濕,污染引起的泄漏較大,示值誤差就大,而儀表"G"端是將被測(cè)試品表面泄漏的電流旁路,使泄漏電流不經(jīng)過(guò)儀表的測(cè)試回路,消除泄漏電流引起的誤差。

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